Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Scanning tunneling microscope and luminescence nanocharacterization of semiconductor quantum dots

In English

Författare

Publiceringsår

2004

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

Book of extended abstracts: Sanken Intl Symp on Scientific and Industrial Nanotechnology, Osaka, Japan (2004), invited

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Condensed Matter Physics

Conference name

Sanken Intl Symp on Scientific and Industrial Nanotechnology, Osaka, Japan (2004), invited

Conference date

0001-01-02

Status

Published