Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Probing of individual semiconductor nanowhiskers by TEM-STM

Författare

Publiceringsår

2004

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

Microscopy Microanal 10, 41-46 (2004)

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Condensed Matter Physics

Conference name

Workshop on Recent Developm and Appl of Atomic Resoltution Electr Mircoscopy and Spectr, Tempe, USA (2003)

Conference date

0001-01-02

Status

Published