Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

On Reduction of Capture Power for Modular System-on-Chip Test

In English

Författare

Publiceringsår

2008

Språk

Engelska

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Nyckelord

  • modular system-on-chip
  • testing
  • power reduction

Conference name

IEEE Workshop on RTL and High Level Testing WRTLT08

Conference date

0001-01-02

Status

Published