Meny

Javascript verkar inte påslaget? - Vissa delar av Lunds universitets webbplats fungerar inte optimalt utan javascript, kontrollera din webbläsares inställningar.
Du är här

X-Ray Analysis: Elemental Trace Analysis at the 10-12 g Level

Publiceringsår: 1970
Språk: Engelska
Sidor: 141-143
Publikation/Tidskrift/Serie: Nuclear Instruments and Methods
Volym: 84
Nummer: 1
Dokumenttyp: Artikel
Förlag: North-Holland Publishing Co.

Sammanfattning

Using protons in the MeV region as excitation source and a high resolution Si(Li)-detector, X-ray analysis is capable of detecting many elements at the 10−12 g level simultaneously.

Disputation

Nyckelord

  • Chemistry
  • Physics and Astronomy
  • Technology and Engineering
  • PIXE
  • particle induced X-ray emission analysis
  • trace element analysis

Övriga

Published
Yes

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen