Du är här

Thermal Aware Test Scheduling for Stacked Multi-Chip-Modules

Författare:

N.S. Vinay
Indira Rawat
M.S. Gaur
Erik Larsson
Virendra Singh

Avdelning/ar:

Elektro- och informationsteknik

Publiceringsår: 2010

Språk: Engelska

Dokumenttyp: Konferensbidrag

Sammanfattning

Disputation

Nyckelord

Ämne

Technology and Engineering

Övrigt

Konferensnamn IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS10)

Konferensdatum 2013-09-18

Konferensplats St. Petersburg, Russia

Status Published

Kvalitetskontrollerad Yes

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen