Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Thermal Aware Test Scheduling for Stacked Multi-Chip-Modules

In English

Författare

  • N.S. Vinay
  • Indira Rawat
  • M.S. Gaur
  • Erik Larsson
  • Virendra Singh

Publiceringsår

2010

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

Design & Test Symposium (EWDTS), 2010 East-West

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Conference name

IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS10)

Conference date

2010-09-17 - 2010-09-20

Conference place

St. Petersburg, Russian Federation

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISBN: 978-1-4244-9555-9