Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Deterministic Scan-Chain Diagnosis for Intermittent Faults

In English

Författare

  • Dan Adolfsson
  • Joanna Siew
  • Erik Larsson
  • Erik Jan Marinissen

Publiceringsår

2009

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

European Test Symposium (ETS 2009)

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Conference name

European Test Symposium, ETS 2009

Conference date

2009-05-25 - 2009-05-29

Conference place

Sevilla, Spain

Status

Published