Du är här

Scan Cell Reordering to Minimize Peak Power during Scan Testing of SoC

Författare:
  • Jaynarayan T. Tudu
  • Erik Larsson
  • Virendra Singh
  • Hideo Fujiwara
Publiceringsår: 2009
Språk: Engelska
Sidor: 43-48
Dokumenttyp: Konferensbidrag

Sammanfattning

Disputation

Nyckelord

  • Technology and Engineering

Övriga

10th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT'09)
2014-11-29
Hongkong, China
Published
Yes

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

LERU logotype U21 logotype

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen