Du är här

Improved Scan Chain Diagnosis

Författare:
  • Erik Jan Marinissen
  • Dan Adolfsson
  • Erik Larsson
  • Sandeep-Kumar Goel
Publiceringsår: 2007
Språk: Engelska
Dokumenttyp: Konferensbidrag

Sammanfattning

Disputation

Nyckelord

  • Technology and Engineering

Övrigt

15th NXP IC Test Symposium
Published

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen

LERU logo U21 logo