Meny

Javascript is not activated in your browser. This website needs javascript activated to work properly.
Du är här

High-Quality Low-Cost Test and DfT for an Embedded Asynchronous FIFO

Författare:
  • Tobias Dubois
  • Mohamed Azimane
  • Erik Larsson
  • Erik Jan Marinissen
  • Paul Wielage
  • Clemens Wouters
Publiceringsår: 2006
Språk: Engelska
Dokumenttyp: Konferensbidrag

Sammanfattning

Disputation

Nyckelord

  • Technology and Engineering
  • testing
  • design for testability
  • embedded systems
  • FIFO

Övriga

14th Philips Research IC Test Seminar
2014-11-26
Published

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen