Du är här

High-Quality Low-Cost Test and DfT for an Embedded Asynchronous FIFO

Författare:

Tobias Dubois
Mohamed Azimane
Erik Larsson
Erik Jan Marinissen
Paul Wielage
Clemens Wouters

Avdelning/ar:

Elektro- och informationsteknik

Publiceringsår: 2006

Språk: Engelska

Dokumenttyp: Konferensbidrag

Sammanfattning

Disputation

Nyckelord

Ämne

Technology and Engineering

Nyckelord

testing
design for testability
embedded systems
FIFO

Övrigt

Konferensnamn 14th Philips Research IC Test Seminar

Konferensdatum 2013-05-23

Status Published

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen