Du är här

System-on-Chip Test Parallelization Under Power Constraints

Författare:
Publiceringsår: 2001
Språk: Engelska
Dokumenttyp: Övrigt
Förlag: European Test Workshop

Sammanfattning

Disputation

Nyckelord

  • Technology and Engineering
  • test parallelization
  • scan-chain
  • test conflicts

Övriga

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

 

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen