Meny

Du är här

System-on-Chip Test Scheduling based on Defect Probability

Författare:
Publiceringsår: 2003
Språk: Engelska
Dokumenttyp: Övrigt

Sammanfattning

Disputation

Nyckelord

  • Technology and Engineering
  • system-on-chip
  • testing
  • test scheduling
  • defect detection

Övriga

  • Digital ASIC

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen