Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Trace Elemental Analysis by Means of Heavy Particle-Induced X-Rays

In English

Författare

Publiceringsår

1978

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

Progress Report for IAEA, Research Agreement No. 1459/R2/CF, January 1975 - December 1977

Dokumenttyp

Rapport

Förlag

Department of Nuclear Physics, Lund Institute of Technology

Ämne

  • Production Engineering, Human Work Science and Ergonomics
  • Subatomic Physics

Nyckelord

  • Particle Induced X-ray Emission Analysis
  • PIXE
  • applications of PIXE

Status

Published