Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Scan Cell Reordering to Minimize Peak Power during Scan Testing of SoC

In English

Författare

  • Jaynarayan T. Tudu
  • Erik Larsson
  • Virendra Singh
  • Hideo Fujiwara

Publiceringsår

2009

Språk

Engelska

Sidor

43-48

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Conference name

10th IEEE Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT'09)

Conference date

2009-11-27 - 2009-11-28

Conference place

Hongkong, China

Status

Published