Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Checking Pipelined Distributed Global Properties for Post-silicon Debug

Författare

Publiceringsår

2010

Språk

Engelska

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Conference name

IEEE Eleventh Workshop on RTL and High Level Testing, 2010

Conference date

2010-12-05 - 2012-12-06

Conference place

Shanghai, China

Status

Published