Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

What one can learn about clusters using the unique tools of x-ray photoelectron spectroscopy

In English

Författare

  • Maxim Tchaplyguine
  • Tomas Andersson
  • Chaofan Zhang
  • Mikko-Heikki Mikkela
  • Leena Partanen
  • Marko Huttula
  • Kari Jankala
  • Gunnar Öhrwall
  • Svante Svensson
  • Nils Mårtensson
  • Olle Björneholm
Visa allt

Summary, in English

This presentation is intended to illustrate various types of collisional processes relevant for free clusters probed by x-ray photoelectron spectroscopy using our own examples ranging from free-electron-metal clusters, through half-metal and semiconductor clusters to dielectrics, the latter from van-der-Waals to ionic clusters.

Publiceringsår

2012

Språk

Engelska

Sidor

152025-152025

Publikation/Tidskrift/Serie

XXVII International Conference on Photonic, Electronic and Atomic Collisions (Icpeac 2011), Pts 1-15

Volym

388

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Förlag

IOP Publishing

Ämne

  • Physical Sciences
  • Natural Sciences

Conference name

27th International Conference on Photonic, Electronic and Atomic Collisions (ICPEAC)

Conference date

2011-07-27 - 2011-08-02

Conference place

Ireland

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 1742-6588
  • ISSN: 1742-6596