Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Time resolved X-ray studies in semiconductor nanostructures

In English

Författare

Summary, in English

Time resolved X-ray diffraction has been used to study acoustic oscillations in InAs/Sb nanowires with diameters of 80 nm and 40 nm in order to determine the speed of sound in the wires.

Avdelning/ar

Publiceringsår

2012

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

2012 Conference on Lasers and Electro-Optics (Cleo)

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Förlag

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Ämne

  • Atom and Molecular Physics and Optics

Conference name

Conference on Lasers and Electro-Optics (CLEO)

Conference date

2012-05-06 - 2012-05-11

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISBN: 978-1-55752-933-6