Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Strain and shape of epitaxial InAs/InP nanowire superlattice measured by grazing incidence X-ray techniques

In English

Författare

  • Joel Eymery
  • Francois Rieutord
  • Vincent Favre-Nicolin
  • Odile Robach
  • Yann-Michel Niquet
  • Linus Fröberg
  • Thomas Mårtensson
  • Lars Samuelson

Summary, in English

Quantitative structural information about epitaxial arrays of nanowires are reported for a InAs/InP longitudinal heterostructure grown by chemical beam epitaxy on an InAs (111)(B) substrate. Grazing incidence X-ray diffraction allows the separation of the nanowire contribution from the substrate overgrowth and gives averaged information about crystallographic phases, epitaxial relationships (with orientation distribution), and strain. In-plane strain in homogeneities, intrinsic to the nanowires geometry, are measured and compared to atomistic simulations. Small-angle X-ray scattering evidences the hexagonal symmetry of the nanowire cross-section and provides a rough estimate of size fluctuations.

Publiceringsår

2007

Språk

Engelska

Sidor

2596-2601

Publikation/Tidskrift/Serie

Nano Letters

Volym

7

Issue

9

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

The American Chemical Society (ACS)

Ämne

  • Nano Technology

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 1530-6992