Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Design and Modeling of a High-Speed Scanner for Atomic Force Microscopy

In English

Författare

  • Georg Schitter
  • Karl Johan Åström
  • Barry E DeMartini
  • Georg E. Fartner
  • Kimberly L. Turner
  • Philipp J. Thurner
  • Paul K. Hansma

Publiceringsår

2006

Språk

Engelska

Sidor

502-507

Publikation/Tidskrift/Serie

American Control Conference, 2006

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Control Engineering

Conference name

American Control Conference, 2006

Conference date

2006-06-14 - 2006-06-16

Conference place

Minneapolis, Minnesota, United States

Status

Published