Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

EL2-Maps from Computer Based Image Analysis of Semi-Insulating GaAs Wafers

Författare

  • Lars Nielsen
  • Lars Samuelsson
  • Pär Omling
  • Per Silverberg

Publiceringsår

1985

Språk

Engelska

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Control Engineering

Conference name

Symposium on Defect Recognition and Image Processing in III-V Compounds

Conference date

1985-07-02 - 1985-07-04

Conference place

Montpellier, France

Status

Published