Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

High Transconductance, f(t) and f(max) in In0.63Ga0.37As FinFETs Using A Novel Fin Formation Technique

Författare

Summary, in English

We report on In0.63Ga0.37As FinFETs utilizing nanowires grown by selective-area growth as channel. These nanowires are defined by crystallographic planes rather than pattern transfer using etching. The fabricated devices exhibit maximum transconductance g(m,max) = 2.05 mS/um at V-ds = 0.5 V, as well as record-high extrapolated f(t) = 300 GHz and f(max) = 342 GHz, on the non-planar III-V MOSFET platform.

Publiceringsår

2014

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

26th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM)

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Förlag

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Conference name

26th International Conference on Indium Phosphide and Related Materials (IPRM)

Conference date

2014-05-11 - 2014-05-15

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 1092-8669