Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Gaia on-board metrology: basic angle and best focus

Författare

  • A. Mora
  • M. Biermann
  • A. G. A. Brown
  • D. Busonero
  • L. Carminati
  • J. M. Carrasco
  • F. Chassat
  • M. Erdmann
  • W. L. M. Gielesen
  • C. Jordi
  • D. Katz
  • R. Kohley
  • Lennart Lindegren
  • W. Loeffler
  • O. Marchal
  • P. Panuzzo
  • G. Seabroke
  • J. Sahlmann
  • E. Serpell
  • I. Serraller
  • F. van Leeuwen
  • W. van Reeven
  • T. C. van den Dool
  • L. L. A. Vosteen

Summary, in English

The Gala payload ensures maximum passive stability using a single material, SiC, for most of its elements. Dedicated metrology instruments are, however, required to carry out two functions: monitoring the basic angle and refocusing the telescope. Two interferometers fed by the same laser are used to measure the basic angle changes at the level of pas (prad, micropixel), which is the highest level ever achieved in space. Two ShackHartmann wavefront sensors, combined with an ad-hoc analysis of the scientific data are used to define and reach the overall best-focus. In this contribution, the systems, data analysis, procedures and performance achieved during commissioning are presented

Publiceringsår

2014

Språk

Engelska

Sidor

91430-91430

Publikation/Tidskrift/Serie

Space Telescopes and Instrumentation 2014: Optical, Infrared, and Millimeter Wave

Volym

9143

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Förlag

SPIE

Ämne

  • Astronomy, Astrophysics and Cosmology

Nyckelord

  • Astrometry
  • Gaia
  • metrology
  • interferometry
  • basic angle monitor
  • wavefront sensor
  • Shack-Hartmann
  • wavefront reconstruction
  • centroid
  • Cramer-Rao
  • spectral resolution

Conference name

Conference on Space Telescopes and Instrumentation - Optical, Infrared, and Millimeter Wave

Conference date

2014-06-22 - 2014-06-27

Conference place

Montreal, Canada

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 1996-756X
  • ISSN: 0277-786X