Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Analytical Use of Proton-Induced X-Ray Emission

In English

Författare

Publiceringsår

1975

Språk

Engelska

Sidor

31-31

Publikation/Tidskrift/Serie

Trans Am Nucl Sci; Proceedings: Summary on a lecture at the International Nuclear and Atomic Activation Conference and the 19th Annual Meeting on Analytical Chemistry in Nuclear Technology

Volym

21

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Production Engineering, Human Work Science and Ergonomics
  • Subatomic Physics

Nyckelord

  • PIXE
  • proton-induced x-ray emission
  • trace element analysis

Conference name

The Interantional Nuclear and Atomic Activation Analysis Conference

Conference date

1975-10-14 - 1975-10-16

Conference place

Gatlinburg, Tennessee, United States

Status

Published