Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Inner-shell 2p photoionization and Auger decay of atomic silicon

In English

Författare

  • K. Jankala
  • Samuli Urpelainen
  • M. Huttula
  • S. Fritzsche
  • S. Heinasmaki
  • S. Aksela
  • H. Aksela

Summary, in English

A detailed experiment on 2p photoionization and subsequent Auger decay of atomic silicon is presented. Fine-structure-resolved photoelectron and Auger electron spectra are interpreted with the aid of large-scale multiconfiguration calculations. Energy separation and the relative cross sections of the 2p ionized fine-structure states of Si+ are given. The complete 2p Auger electron spectrum of Si is interpreted, and the intensity distribution to individual doubly ionized final states is studied.

Publiceringsår

2008

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

Physical Review A (Atomic, Molecular and Optical Physics)

Volym

77

Issue

6

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

American Physical Society

Ämne

  • Natural Sciences
  • Physical Sciences

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 1050-2947