Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Thickness dependence of photoemission and X-ray fluorescence spectra in epitaxial NiO layers on Ag(100)

Författare

Publiceringsår

2003

Språk

Engelska

Sidor

201-205

Publikation/Tidskrift/Serie

Thin Solid Films

Volym

428

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

Elsevier

Ämne

  • Natural Sciences
  • Physical Sciences

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 0040-6090