Thickness dependence of photoemission and X-ray fluorescence spectra in epitaxial NiO layers on Ag(100)
Författare
Avdelning/ar
Publiceringsår
2003
Språk
Engelska
Sidor
201-205
Publikation/Tidskrift/Serie
Thin Solid Films
Volym
428
Dokumenttyp
Artikel i tidskrift
Förlag
Elsevier
Ämne
- Natural Sciences
- Physical Sciences
Status
Published
ISBN/ISSN/Övrigt
- ISSN: 0040-6090