Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Proton Induced X-Ray Emission Applied to Thick Samples

In English

Författare

Publiceringsår

1975

Språk

Engelska

Dokumenttyp

Konferensbidrag: abstract

Ämne

  • Production Engineering, Human Work Science and Ergonomics
  • Social Sciences Interdisciplinary
  • Subatomic Physics

Nyckelord

  • thick samples
  • particle induced X-ray emission
  • PIXE

Conference name

The Swedish National Physics Conference

Conference date

1975-06-10 - 1975-06-12

Conference place

Gothenburg, Sweden

Status

Published