Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Shear anisotropy in Si-Cu interfaces on the atomic scale

In English

Författare

Avdelning/ar

Publiceringsår

2016

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

Computational Materials Science

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

Elsevier

Ämne

  • Mechanical Engineering

Nyckelord

  • copper coated silicon, nanosized film, lattice orientation, molecular dynamics, anisotropy, slip-direction

Status

Submitted

Projekt

  • Atomistic Studies of Nanosized Copper Structures

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 0927-0256