Publikationer
Capture Power Reduction for Modular System-on-Chip Test
Avdelning/ar:
Publiceringsår: 2009
Språk: Engelska
Dokumenttyp: Konferensbidrag
Sammanfattning
Disputation
Nyckelord
- Technology and Engineering
Övrigt
IEEE/VSI VLSI Design and Test Symposium (VDAT)
2013-07-09
Bangalore, India
Published
Yes
