Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

An Even-Odd DFD Technique for Scan Chain Diagnosis

Författare

Publiceringsår

2009

Språk

Engelska

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Conference name

Workshop on RTL and High Level Testing (WRTLT)

Conference date

2009-11-27 - 2009-11-28

Conference place

Hongkong, China

Status

Published