Meny

Javascript verkar inte påslaget? - Vissa delar av Lunds universitets webbplats fungerar inte optimalt utan javascript, kontrollera din webbläsares inställningar.
Du är här

Thermal Aware Test Scheduling for Stacked Multi-Chip-Modules

Författare:
  • N.S. Vinay
  • Indira Rawat
  • M.S. Gaur
  • Erik Larsson
  • Virendra Singh
Publiceringsår: 2010
Språk: Engelska
Publikation/Tidskrift/Serie: Design & Test Symposium (EWDTS), 2010 East-West
Dokumenttyp: Konferensbidrag

Nyckelord

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Övriga

IEEE East-West Design and Test Symposium (EWDTS10)
Published
  • ISBN: 978-1-4244-9555-9

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu.se

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen