Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Dissociative H2O adsorption on the Si (100) 2× 1 and Ge (100) 2× 1 surfaces

Författare

Summary, in English

Core-level spectroscopy and valence band photoelectron spectroscopy were used to study H2O adsorption on the Si(100) and Ge(100) surfaces. We find that H2O dissociates into H and OH on both surfaces at 300 K. The H and OH are adsorbed in on top positions on the surface. The OH group is tilted with respect to the surface normal on the Si(100) surface. We consider two possible interpretations for the results from the H2O dosed Ge(100) surface at 300 K. Either a similar model as for the Si(100) surface or a model based on two adsorption sites.

Publiceringsår

1991

Språk

Engelska

Sidor

297-300

Publikation/Tidskrift/Serie

Vacuum

Volym

42

Issue

4

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

Elsevier

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Status

Published

Forskningsgrupp

  • Electromagnetic theory

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 0042-207X