Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

On the Application of Elastic Scattering Analysis as a Complement to PIXE for the Determination of Light Elements in Thin Aerosol Samples

In English

Författare

Summary, in English

The potential of elemental analysis of light elements by measuring elastically scattered particles as a complement to PIXE (Particle Induced X-ray Emission analysis), when using a 3 MV electrostatic tandem accelerator is discussed. The discussion is based on protons and He ions with energies suitable for PIXE. Some experimental results of scattering yields are included.

Publiceringsår

1983

Språk

Engelska

Dokumenttyp

Rapport

Förlag

[Publisher information missing]

Ämne

  • Production Engineering, Human Work Science and Ergonomics
  • Subatomic Physics

Status

Published

Report number

LUTFD2/TFKF-3041)/1-121983)