Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Image analysis of scanning electron microscope images to determine crack opening stress, crack shape and strain field of fatigue cracks exposed to overloads

Författare

Redaktör

  • Andrea Carpinteri

Publiceringsår

2006

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

International Conference on Crack Paths

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Applied Mechanics
  • Materials Engineering

Conference name

International Conference on Crack paths, 2006

Conference date

2006-09-14 - 2009-09-16

Conference place

Parma, Italy

Status

Published