Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Particle Elastic Scattering Analysis of Thin Samples with Protons ad He-ions from a 3 MV Electrostatic Accelerator

Författare

Publiceringsår

1983

Språk

Engelska

Dokumenttyp

Konferensbidrag: abstract

Ämne

  • Production Engineering, Human Work Science and Ergonomics
  • Subatomic Physics

Conference name

Third Conference on Particle Induced X-Ray Emission Analysis and its Applications

Conference date

1983-07-18 - 1983-07-22

Conference place

Heidelberg, Germany

Status

Published