Du är här

Thickness dependence of photoemission and X-ray fluorescence spectra in epitaxial NiO layers on Ag(100)

Författare:

S. A. Krasnikov
Alexei Preobrajenski
T. Chasse
R. Szargan

Avdelning/ar:

Max-lab

Publiceringsår: 2003

Språk: Engelska

Sidor: 201-205

Publikation/Tidskrift/Serie: Thin Solid Films

Volym: 428

Dokumenttyp: Artikel

Sammanfattning

Disputation

Nyckelord

Ämne

Physics and Astronomy

Övrigt

Status Published

Kvalitetskontrollerad Yes

Box 117, 221 00 LUND
Telefon 046-222 00 00 (växel)
Telefax 046-222 47 20
lu [at] lu [dot] se

Fakturaadress: Box 188, 221 00 LUND
Organisationsnummer: 202100-3211
Om webbplatsen