Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Special Issue On "Advanced Control Methods For Scanning Probe Microscopy"

Författare

Publiceringsår

2009

Språk

Engelska

Sidor

101-103

Publikation/Tidskrift/Serie

Asian Journal of Control

Volym

11

Issue

2

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

Chinese Automatic Control Society

Ämne

  • Control Engineering

Status

Published

Forskningsgrupp

  • LCCC

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 1934-6093