Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Differential measurement and parameter extraction of symmetrical inductors

In English

Författare

Summary, in English

Measurements and extraction of Q-value and self-resonance frequency of on-chip differential symmetrical inductors have been performed. Both 1-port and 2-port measurements have been carried out. In the 1-port measurements a high frequency broadband 180

Publiceringsår

2005

Språk

Engelska

Sidor

289-292

Publikation/Tidskrift/Serie

[Host publication title missing]

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Förlag

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc.

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Nyckelord

  • Indentro
  • parameter extraction
  • differential signals
  • inductor optimization program
  • self-resonance frequency
  • differential circuit
  • Q-value
  • differential symmetrical inductors
  • 1-port measurements
  • 2-port measurements
  • FastHenry

Conference name

NORCHIP Conference, 2005

Conference date

2005-11-21 - 2005-11-22

Conference place

Oulu, Finland

Status

Published

Forskningsgrupp

  • Elektronikkonstruktion

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISBN: 1-4244-0064-3