Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Carrier density saturation in a Ga0.25In0.75As/InP heterostructure

Författare

Summary, in English

We observe a strong saturation of the carrier density in the quantum well of a Ga0.25In0.75As/InP MISFET at positive gate voltages. Using a self-consistent Schrodinger/Poisson solver, we model the band structure and find that the saturation is caused by the population of charge states between the gate and the quantum well. We discuss the impact of these charge states on the transport properties, and present a fabrication method that avoids parallel conduction in this heterostructure. (C) 2007 Elsevier B.V. All rights reserved.

Publiceringsår

2008

Språk

Engelska

Sidor

1754-1756

Publikation/Tidskrift/Serie

Physica E: Low-Dimensional Systems and Nanostructures

Volym

40

Issue

5

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

Elsevier

Ämne

  • Condensed Matter Physics

Nyckelord

  • saturation
  • carrier density
  • GaInAs
  • InP
  • band structure

Status

Published

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 1386-9477