Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Capture Power Reduction for Modular System-on-Chip Test

Författare

Publiceringsår

2009

Språk

Engelska

Dokumenttyp

Konferensbidrag

Ämne

  • Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering

Conference name

IEEE/VSI VLSI Design and Test Symposium (VDAT)

Conference date

2009-07-08 - 2009-07-10

Conference place

Bangalore, India

Status

Published