Webbläsaren som du använder stöds inte av denna webbplats. Alla versioner av Internet Explorer stöds inte längre, av oss eller Microsoft (läs mer här: * https://www.microsoft.com/en-us/microsoft-365/windows/end-of-ie-support).

Var god och använd en modern webbläsare för att ta del av denna webbplats, som t.ex. nyaste versioner av Edge, Chrome, Firefox eller Safari osv.

Temperature dependent properties of InSb and InAs nanowire field-effect transistors

Författare

Summary, in English

We present temperature dependent electrical measurements on InSb and InAs nanowire field-effect transistors (FETs). The FETs are fabricated from InAs/InSb heterostructure nanowires, where one complete transistor is defined within each of the two segments. Both the InSb and the InAs FETs are n-type with good current saturation and low voltage operation. The off-current for the InSb FET shows a strong temperature dependence, which we attribute to a barrier lowering due to an increased band-to-band tunneling in the drain part of the channel.

Publiceringsår

2010

Språk

Engelska

Publikation/Tidskrift/Serie

Applied Physics Letters

Volym

96

Issue

15

Dokumenttyp

Artikel i tidskrift

Förlag

American Institute of Physics (AIP)

Ämne

  • Condensed Matter Physics

Nyckelord

  • field effect transistors
  • nanowires

Status

Published

Forskningsgrupp

  • Nano

ISBN/ISSN/Övrigt

  • ISSN: 0003-6951