System-on-Chip Test Scheduling based on Defect Probability
Författare
Publiceringsår
2003
Språk
Engelska
Dokumenttyp
Övrigt
Ämne
- Electrical Engineering, Electronic Engineering, Information Engineering
Nyckelord
- system-on-chip
- testing
- test scheduling
- defect detection
Status
Published
Forskningsgrupp
- Digital ASIC